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乙烯基及烷基硅树脂合成、表征及N2氛围下热老化对比研究

摘要

聚硅氧烷的老化过程是一个复杂的过程,对于材料的使用性能有着重要的影响.本文采用有机硅单体水解缩合制备了乙烯基、正丙基和正辛基硅树脂,表征了其基本结构参数,并研究了在N2氛围中有机基团对于残留烷氧基稳定性的影响.通过1H NMR和29SiNMR分析了老化前后其结构变化;采用TGA、DSC和TG-IR联用等分析手段跟踪老化过程中质量损失、焓变和产生的挥发物的特征基团.结果表明:热老化过程中硅乙烯基之间d-pπ共轭效应促进Si—OR键的断裂,同时O原子的电子云密度得以提高而更易进攻另一分子上的Si原子,从而使得乙烯基硅树脂的进一步缩合,并放出乙醚分子.而对于烷基硅树脂在此过程没有观测到此类缩合.该研究结果丰富了聚硅氧烷的老化过程机理.

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