电连接器失效问题的仿真研究与改进

著录项

• 来源
  《中国电子学会元件分会连接器与开关第十四届学术会议》|2016年|163-168|共6页
• 会议地点 郑州
• 作者

  程立新; 许彬彬; 胥进道; 陈国才;

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• 作者单位

  中国电子学会;

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• 会议组织
• 正文语种
• 原文格式 PDF
• 中图分类 TM503.5;
• 关键词

  电连接器; 失效模式; 结构优化; 可靠性;