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结合空间辐射探测技术的航天电子元器件验证方法

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为了提高航天器设计制造自主可控能力,开展国产元器件的在轨验证非常必要.国外已经开展了大量针对元器件验证评估的空间辐射效应探测与研究工作.中国对部分电子元器件进行了在轨搭载验证,取得了一定的效果.本文介绍了一种结合空间辐射参数探测技术的元器件在轨单粒子定量预计方法，给出了辐射参数与单粒子验证试验单元方案。仪器通过LET探测、质子探测与辐射剂量探测，结合标准元器件的在轨表现，对元器件在轨单粒子预计方法进行验证和比对。将该方法应用于国产元器件的在轨评估，对提高国产元器件的在轨单粒子预计能力，提升航天器在轨安全性和自主可控能力具有一定的意义。

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来源
《第十届国家安全地球物理学术讨论会》|2014年|6-13|共8页
会议地点青岛
作者
SHAO Si-pei; 邵思霈; LI Jing-jing; 李璟璟; LIU Yong; 刘泳; ZHANG Yu-tu; 张玉兔;
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作者单位

中国地球物理学会国家安全地球物理专业委员会;

陕西省地球物理学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类电子设备;
关键词
航天电子元器件; 空间辐射环境; 单粒子性能; 在轨测试;

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