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NaI(TI)探测器对γ射线的探测效率模拟

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探测效率是探测器的主要性能指标之一,与射线的能量、探测器大小与形状以及源与探测器的几何位置等因素密切相关.采用理论模拟对探测器进行效率刻度,具有减小成本、节约时间等明显优点.对某型NaI(T1)探测器对系列能量γ射线的响应能谱进行了MCNP模拟,在此基础上获取了该探测器的效率刻度曲线,为其设计和使用提供参考和依据.模拟结果表明:探测器对低能γ射线(100keV～300keV)探测效率较高,随着能量的增加其效率逐渐减小.

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来源
《中国辐射防护学会2016年学术年会》|2016年|526-530|共5页
会议地点深圳
作者
Yu Shao-jie; 余少杰; Hao rui; 郝锐; Zhang jing; 张静; Gao yan; 高岩;
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作者单位

中国核学会;

中国环境科学学会;

中国辐射防护学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TL816.2;
关键词
γ射线探测器; 探测效率; 刻度曲线; 物理模型;

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