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稀疏阵列在基于三维成像的RCS测量中的应用

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为了适应基于三维成像的RCS测量对稀疏阵列的使用要求,该文提出了一种基于改进后向投影(back project,BP)算法进行近远场变换的RCS测量技术.该技术可同时完成近远场变换和三维成像,且适用于稀疏阵列.从已获取的3-D图像中,该技术可以反演出远场目标的RCS处于不同观测角度、不同频率的值.最后,利用汽车模型仿真实验,分析了该技术在使用稀疏阵列测量时的测量精度.

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来源
《第十四届全国雷达学术年会》||1-4|共4页
会议地点成都
作者
廖可非; 欧阳缮;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类
关键词
合成孔径雷达; 散射截面积; 三维成像; 稀疏阵列; 近远场变换;

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