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基于脉冲激光的深空探测载荷单粒子效应试验研究

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脉冲激光可以模拟测试深空探测载荷半导体器件的单粒子效应现象,可以定位器件对单粒子效应敏感的具体单元,可以动态测试电路系统对单粒子效应的时间响应特性.通过研究,可以建立试验测试单粒子效应的激光能量与重离子LET值的对应关系,据此可以定量摸底评估器件的单粒子效应敏感度.深空探测载荷需要评估其单粒子效应的特性及对电路系统的影响,需要摸索设计合适的电路条件防范单粒子效应影响,需要试验验证电路系统的抗单粒子效应设计措施,甚至要研制载荷专用的抗辐射ASIC电路,这就需要更加精细的单粒子效应测试.便捷、低成本的脉冲激光试验是满足深空探测载荷上述单粒子效应试验需求的重要选择.

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来源
《中国宇航学会深空探测技术专业委员会第十三届学术年会》|2016年|1-8|共8页
会议地点上海
作者
韩建伟; 上官士鹏; 马英起; 朱翔; 陈睿; 李赛;
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作者单位

中国宇航学会深空探测技术专业委员会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类静力试验;
关键词
深空探测载荷; 半导体器件; 单粒子效应; 脉冲激光试验;

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