电离层测高数据对太阳耀斑响应的研究

摘要

利用子午工程布设在武汉、海南站电离层测高仪2011年1月至2013年8月的电离图图形和SAO数据,分析M5.0级以上太阳耀斑对电离层的影响.结果表明:(1)2011年2月15日X2.2级耀斑爆发后,武汉、海南站电离层测高仪电离图图形均出现电离图描迹消失现象;电离层测高仪起测频率fmin在耀斑爆发期间比平静日同时段高.(2)除了耀斑的X射线最大辐射通量,耀斑持续时间也是影响电子浓度增量大小的一个重要参数,一个X射线最大辐射通量较小但其持续时间较长的耀斑对电离层的影响可能会强烈于X射线最大辐射通量较大但其持续时间较短的耀斑.(3)电子浓度增量的大小与耀斑爆发地方时有直接关系,中午时段比晚间更大.

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