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面向硅后验证的平台设计与测试激励生成技术

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随着微处理器设计规模和复杂度的增加,传统的硅前验证难以发现所有的错误,需要在硅后验证阶段发现和定位问题.针对硅后验证中测试激励生成复杂、速度慢、冗余度高等问题,本文在"银河飞腾"DSP开发板的基础上,提出了"主-从"双芯片验证结构,采用随机生成测试激励的方法,对"银河飞腾"高性能DSP芯片指令集进行了全面的硅后功能验证,结果表明,本文采用的方法灵活度高,冗余度低,可以有效提高硅后验证效率.

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来源
《第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛》|2013年|325-329|共5页
会议地点西宁
作者
刘畅; 郭阳;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TP368.1:TP306;
关键词
微处理器; 硅后验证; 测试激励; 随机生成;

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