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新生儿低血糖脑损伤振幅整合脑电图特征研究

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摘要

目的：探讨新生儿低血糖时振幅整合脑电图(aEEG)的变化特点,结合颅脑MRI,探讨aEEG在预测低血糖脑损伤中的应用价值。方法：2012年5月-2012年10月在本院新生儿病区住院的24例低血糖患儿,其中男13例,女11例,早产儿14例,足月儿10例,入院日龄为37.3±1.2W (32+3～41)W,出生体重2386±535g (1020～2930g)。24例患儿平均低血糖持续时间为(37.3±41.4)h,最低血糖值为0.8mmol/L.将临床表现有低血糖抽搐发作且aEEG表现为频繁惊厥发作或惊厥持续状态发作的患儿作为低血糖脑损伤组,其余归在无低血糖脑损伤组。采用CFM3000脑功检测仪。电极位置:双顶骨(相当于10/20国际电极安放法电极位置的P3和P4处)参考电极位于头顶中央向前25mm额中线上。分别在诊断低血糖当天和血糖稳定后5天或诊断低血糖10天左右进行aEEG描记,监测时间为12h。分析aEEG的背景波的变异性、睡眠-觉醒周期、下边界及振幅等。结果严重低血糖脑损伤的患儿可出现不同程度的癫痛发作，并在血糖纠正后继续存在。低血糖脑损伤时aEEG的表现为帽状或锯齿形癫痛发作，睡眠-觉醒周期的消失，而对下边界及振幅的影响不大。睡眠-觉醒周期的恢复提示脑功能恢复良好。在监测低血糖脑损伤方面，aEEG与MRI有很好的一致性。结论aEEG在监测低血糖脑损伤时有其特征意义的变化，可用来动态监测低血糖脑损伤。

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