首页> 中文会议>1998年全国玻璃学术年会 >彩色条纹缺陷的检验和成因初探

彩色条纹缺陷的检验和成因初探

摘要

使用以模拟沉屏条件原理制做的灯箱,实现了彩色条纹缺陷的在线抽验,彩用OM和AAS的方法,观察和分析了彩色条纹的显微形貌和微量成份,从阳极帽在玻璃中的着色和认流两个方面,探讨了彩色条纹的形成原因。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号