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一种有效的故障测试集最小化算法

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本文简单介绍了最小完全故障测试集的性质,在此基础上提出了一种故障测试集最小化问题的最优保存遗传算法,讨论了故障测试集最小化问题的基因表达方式——面向故障的整数编码以及合理的适值函数.实例验证的结果表明,该算法可以取得满意的结果.

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来源
《第十二届全国半导体集成电路硅材料学术会议》|2001年|403-406|共4页
会议地点昆明
作者
王小港; 罗志宏; 姚林声; 甘骏人;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
遗传算法; 测试集最小化; 故障测试; 集成电路;

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