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高分子自组装薄膜的X-射线反射率研究

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本文以具有不同电子密度的聚电解质自组装成膜,用XRR表征一系列薄膜的结构.研究结果表明,XRR是薄膜结构研究的有效方法,它不仅提供自组装多层膜的有序度,重要的是能揭示多层膜的层间界面信息.

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来源
《2003全国高分子学术论文报告会》|2003年|339-340|共2页
会议地点杭州
作者
黄兰; 谭智敏; 李秀宏; 李明; 麦振洪; 曹维孝;
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作者单位

中国化学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类高分子材料;特种结构材料;
关键词
自组装薄膜; 高分子材料; X射线反射率; 层间界面; 薄膜结构;

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