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粉末压片-X射线荧光光谱法测定三氧化二钒中主次成分

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采用粉末压片-X射线荧光光谱法测定三氧化二钒中V、P、Fe、K2O、Na2O、S等含量,通过选择合适的制样条件、确定仪器最佳参数,选用不同生产线生产的具有含量梯度的样品,通过化学定值后绘制校准曲线,以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应.该方法简便快速、有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学结果一致,适用于大批量日常生产检测.

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来源
《2012国际冶金及材料分析测试学术报告会（CCATM2012）》|2012年|669-672|共4页
会议地点北京
作者
YANG Xin-neng; 杨新能; FENG Zong-ping; 冯宗平; YANG Shao-song; 羊绍松;
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作者单位

中国金属学会;

中国机械工程学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TG115.33;TG146.413;
关键词
提矾工艺; 三氧化二钒; 主次元素; 成分分析; 粉末压片-X射线荧光光谱法;

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