首页> 中文会议>2013年航天可靠性学术交流会 >基于加速退化数据的集成电路可靠性评估

基于加速退化数据的集成电路可靠性评估

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据.对于高可靠长寿命的集成电路,很难通过加速试验获得其失效寿命时间.将性能退化理论引入到传统的可靠性评估中,采用基于退化轨迹的可靠性评估方法,对某型号CMOS工艺集成电路进行加速性能退化试验,利用引线键合强度的退化数据对退化轨迹进行模型拟合得到模型参数,统计分析得出了该器件的可靠性信息.

著录项

来源
《2013年航天可靠性学术交流会》|2013年|433-439|共7页
会议地点北京
作者
王超; 李凌; 胡圣; 吴生虎;
展开▼
作者单位

中国宇航学会;

中国航天科技集团公司;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
集成电路; 加速性能; 退化数据; 可靠性评估;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 基于加速性能退化数据的XLPE绝缘可靠性评估 [J] . 陈新岗 ,杨平 ,马志鹏 . 绝缘材料 . 2021,第7期
2. 基于加速退化数据的可靠性评估技术综述 [J] . 王浩伟 ,滕克难 . 系统工程与电子技术 . 2017,第012期
3. 基于加速退化数据的某型电连接器可靠性评估 [J] . 孙旭波 ,王浩伟 ,王峰 . 海军航空工程学院学报 . 2014,第001期
4. 基于加速退化数据的可靠性评估 [J] . 邓爱民 ,陈循 ,张春华 . 弹箭与制导学报 . 2006,第002期
5. 极小子样加速退化试验数据可靠性评估方法 [J] . 张海龙 ,郭海亮 ,孔耀 . 无线电工程 . 2020,第011期
6. 基于加速性能退化试验的单片集成电路可靠性评估 [C] . 王超 ,李凌 ,吴生虎 . 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会 . 2010
7. 基于加速老化试验IGBT性能退化特征参量的可靠性评估 [A] . 曾东 . 2019

基于加速退化数据的集成电路可靠性评估

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅