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天线罩紧缩场测试系统中馈源天线副瓣影响分析

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天线罩是导弹上的重要部件,用于保护罩内设备正常工作,保证制导精度.天线罩设计验证中,微波暗室测试环节是衡量天线罩电气性能的重要手段.为保证天线罩电气性能测试的准确性,天线罩测试系统中的各个环节必须严格控制.天线罩测试系统中,馈源天线的影响尤其不可忽略.在紧缩场测试系统中,馈源天线的副瓣经过反射面反射,对天线罩测试的影响更为明显.通过本文仿真及其测试数据分析可以看出，天线副瓣对天线罩中心角度测试数据产生的影响较大。中心角度处的测试传输系数数值产生较大的波动，数据异常。并令其瞄准误差增大，瞄准误差斜率增大，天线罩整体测试数据产生偏差。因此在天线罩测试中应尽量避免馈源天线副瓣的影响。

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来源
《2013年全国天线年会》|2013年|1320-1323|共4页
会议地点广州
作者
WangYongguang; 王永光; Wang Jie; 王婕; RenJianhua; 任建华;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN820.81;
关键词
天线罩; 紧缩场; 测试系统; 电气性能;

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