首页> 中文会议>2018中国显示学术会议 >IGZO手机屏异常断电电荷残留的研究

IGZO手机屏异常断电电荷残留的研究

摘要

IGZO TFT电子迁移率高于a-Si:H TFT,漏电流远低于a-Si:H TFT,在增大开口率、降低功耗的同时,需要注意手机屏异常掉电时屏内电荷残留情况.在这样的背景下,就手机屏掉电方式作出分析,讨论在手机主板异常断电情况下的电荷残留状况.并提出断电时电路模型,对断电时的电荷清除动作进行研究.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号