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LCD制造中使用TFT基板进行Rubbing布Aging以改善Cell异物的研究

摘要

本文通过研究Cell异物随Rubbing布Cloth寿命发生的分布规律,发现60%以上的异物集中发生在Cloth寿命前60次内,其中Hyper型异物约占80%,说明Cloth寿命前期容易高发的Hyper异物影响了整体异物发生率.分析认为是白玻璃对Cloth布的Aging效果不够好,因此设计测试模拟真实Rubbing情况,用TFT来对Cloth布Aging,结果发现对Hyper型异物有良好的改善效果,降低了寿命前期的Hyper异物发生率,从而降低了整体异物发生率.

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