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双环路波前剪切干涉测量装置

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本文设计并发展了基于三平板干涉的双环路波前剪切干涉测量装置,并应用于测量本实验室CPA激光系统各级放大器和压缩器输出的光束质量,测量结果与哈特曼方法进行了比较测量,得到了很多有意义的一致性结果。

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来源
《2004年全国强场激光物理会议》|2004年|841-849|共9页
会议地点福建武夷山
作者
朋汉林; 徐宏玮; 林礼煌; 冷雨欣; 帅斌; 李儒新;
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作者单位

中国高等科学技术中心;

中科院上海光学精密机械研究所;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类激光物理和基本理论;
关键词
剪切干涉; CPA激光系统; 哈特曼测量方法; 测量装置;

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