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X射线荧光光谱法测定重晶石中的钡、锶、铁、铝、硅

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摘要

采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法测定重晶石中钡、锶、铁、铝、硅.采用理论α系数和经验系数相结合的方法校正元素间的基体效应.测定重晶石试样各组分的相对标准偏差(RSD,n=12)均小于5.5％,结果与化学分析法吻合.

著录项

来源
《2017年全国质检系统X射线分析技术学术研讨会》|2017年|181-183|共3页
会议地点广州
作者
Liu Yifeng; 刘益锋; Tian Qiong; 田琼; Yang Shujie; 杨树洁; Lv Shansheng; 吕善胜; Lin Hai; 林海; Liu Zhongyong; 刘中勇;
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作者单位

广东出入境检验检疫局;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 P578.71;
关键词
重晶石; 化学成分; X射线荧光光谱法; 相对标准偏差;

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