首页> 中文会议>中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十四届学术年会 >直流老化对ZnO压敏电阻8/20 μs脉冲老化寿命的影响

直流老化对ZnO压敏电阻8/20 μs脉冲老化寿命的影响

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

为了研究直流老化对ZnO压敏电阻8/20μs脉冲老化寿命的影响,对同一批次的ZnO压敏电阻在125°C、110％的荷电率下进行直流老化,老化时间分别为20、40、60、80、100h.直流老化后对各组压敏电阻进行幅值21.5kA的8/20μs波形大电流冲击老化.研究发现直流老化30h与40h的压敏电阻器可以承受100次的冲击,直流老化80h与100h的压敏电阻器可以承受65次的冲击.结果表明直流老化机理与冲击老化机理存在明显差异,8/20μs脉冲老化造成ZnO压敏电阻的基体表面有缺陷的局部区域出现孔洞和裂纹,晶界层的破坏导致了压敏电压的降低,压敏电阻性能的劣化.直流老化时间相近的压敏电阻具有相同的耐大电流冲击老化的特性.

著录项

来源
《中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十四届学术年会》|2017年|71-73|共3页
会议地点三亚
作者
张宁; 方超; 庞弛; 施斌; 费自豪;
展开▼
作者单位

中国电子学会;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类电阻器、电位器;
关键词
氧化锌压敏电阻; 直流老化; 冲击老化; 离子迁移; 使用寿命;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 能量脉冲对高能ZnO压敏电阻静态老化性能的影响 [J] . 张树高 ,黄伯云 . 功能材料 . 1997,第004期
2. 高能ZnO压敏电阻在能量脉冲下的动态老化 [J] . 张树高 ,黄伯云 . 功能材料 . 1997,第004期
3. 能量脉冲下高能ZnO压敏电阻的老化现象 [J] . 张树高 ,黄伯云 ,方勋华 . 粉末冶金材料科学与工程 . 1997,第002期
4. 交直流老化后ZnO压敏电阻宏观电容量随时间变化的特性分析 [J] . 徐乐 ,游志远 ,胡玉玲 . 中国电力 . 2016,第011期
5. 8/20脉冲对ZnO压敏电阻器工频耐受性能的影响 [J] . 韩伟 ,王建文 ,孟梅 . 电瓷避雷器 . 2006,第004期
6. 热激电流(TSC)技术与ZnO压敏电阻直流老化实验 [C] . 范积伟 ,赵慧君 ,张小立 . 中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十届电压敏学术年会 . 2013
7. 高压ZnO压敏电阻耐大电流冲击及老化性能研究 [A] . 王亚萍 . 2016

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号