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基于超声A-Scan和C-Scan的MLCC介质缺陷无损检测

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本文针对多层瓷介电容器(Multi-layer Ceramic Capacitors,MLCC)介质缺陷的超声检测(Ultrasonic Testing,UT)技术开展了深入研究.首先,通过理论分析证明了UT对MLCC介质缺陷检测的适用性和有效性;同时,获得了C-Scan检测参数,包括等效焦距、第一反射波时间、门限和增益.其次,对MLCC进行了实际的UT检测,结果表明50MHz是其最佳的检测频率.最后,通过A-Scan完成了缺陷判别和定位,并通过制样检测验证了结论.

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来源
《四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十八届电子测试与测量技术专题学术年会》|2017年|264-269|共6页
会议地点昆明
作者
He Zhigang; 何志刚; Liang Dongcheng; 梁栋程; Gong Guohu; 龚国虎; 王晓敏;
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作者单位

四川省电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TM534.1:TM507;
关键词
多层瓷介电容器; 介质缺陷; 超声检测; A模式扫描; C模式扫描;

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