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正电子致电离截面实验中束流强度的在线测量

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本文采用HPGe探测器实时收集了正电子碰撞厚Ti靶伴随产生的湮灭光子,并结合HPGe探测器对放置在碰撞点处22Na标准源产生的511keV湮灭光子的探测效率刻度值,得到了8～9.5keV正电子引起Ti原子内壳层电离截面实验中正电子束流强度的实时测量结果.结果表明,在实验测量的38h内,基于22Na标准源慢正电子束流装置产生的正电子束流强度不稳定,随时间的变化有着不同程度的衰减,且存在小幅度波动现象.因此,低能正电子致原子内壳层电离截面实验中应采用在线法获取慢正电子束流强度.

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来源
《第一届全国空间核动力学术会议》|2018年|140-143|共4页
会议地点西安
作者
LAN Wenhong; 蓝文鸿; WU Ying; 吴英; DU Yongqi; 杜永琪; LIU Zekun; 刘泽坤; LI Zhen; 李臻; GAO Feng; 高峰;
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作者单位

国防科技工业核材料技术创新中心国家同位素工程技术研究中心中国核工业集团公司空间核动力技术重点实验室;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TL814.2;
关键词
高纯锗探测器; 正电子束流强度; 在线测量; 正电子湮灭; 原子内壳层电离截面;

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