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二次靶偏振激发能量色散XRF荧光仪测定铁矿石中硫

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本文提出了用粉末压片法、以二次靶偏振激发能量色散XRF荧光仪测定铁矿石中硫的新方法。借助C-S 800仪器分析日常铁矿石定值样为参考校正标准样，以抵消铁矿石颗粒度、矿物组成差异影响。对含硫量在0.5%～2.5%的铁矿石分析获得满意结果，目前国内还没见到类似文献报道。

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来源
《第四届全国高速分析学术交流会》|2012年|63-67|共5页
会议地点无锡
作者
白福全; 连俊峰; 王再田; 丁慧; 宁国东; 张梅;
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作者单位

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 P618.310.4;
关键词
铁矿石; 硫元素; 粉末压片法; 二次靶偏振; 能量色散;

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