利用双层THGEM探测系统对电子漂移速度的测试

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• 来源
  《第十六届全国核电子学与核探测技术学术年会》|2012年|320-324|共5页
• 会议地点 四川绵阳
• 作者

  贾飞; JIA Fei; WU Bo-Bing; 吴伯冰; DONG Yong-Wei; 董永伟; 张永杰; ZHANG Yong-jie; 刘鑫; LIU Xing; 张力; ZHANG Li; LIU Jiang-tao; 刘江涛; 徐寒晖; XU Han-hui; LI Lu; 李陆; 张来宇; ZHANG Lai-yu; 柴军营; CHAI Jun-ying; 肖华林; XIAO Hua-lin; 孙建超; SUN Jian-chao; 文星; WEN Xing; 鲍天威; BAO Tianwei; 王瑞杰; WANG Rui-jie; 赵冬华; ZHAO Dong-hua; 谢一冈; XIE Yi-gang; LIU Hong-bang; 刘宏邦; 刘倩; LIU Qian; CHEN Shi; 陈石;

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• 作者单位

  中国电子学会;

  中国核学会;

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• 会议组织
• 正文语种
• 原文格式 PDF
• 中图分类 TH753:TH707;
• 关键词

  厚气体电子倍增探测器; 空间天文测量; 电子漂移速度; 系统测试;