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FPGA中IOB与CLB的故障检测的研究

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随着集成电路产业和IC技术的发展,为满足电路的方便灵活的设计需要,现场可编程门阵列应运而生.如今FPGA器件已在数字领域的广泛应用,用户对它的准确性和可靠性要求也更高.所以,对于FPGA器件的故障测试和诊断的研究对科研和工程实践都具有重要意义。本文基于Xilinx公司的XC4010E为研究对象,就FPGA故障检测进行了研究.充分利用EDA工具,和相关硬件测试平台完成了FPGA测试中“配置—下载—测试—分析”的故障诊断步骤.

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来源
《四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度学术年会》|2012年|215-219|共5页
会议地点成都
作者
Ma Li; 马力; Zhang Xuexin; 张学昕; 陈瑶;
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作者单位

四川省电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN492:TN407;
关键词
专用集成电路; 现场可编程门阵列; 故障检测; 输入输出模块;

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