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片上信号完整性研究与测试

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本文对片上信号完整性进行了分析,并提出了一种有效的信号完整性测试电路.该电路不需要特殊的测试仪器和测试流程,可以完全融合于芯片功能测试流程中.通过在测试芯片中流片验证,该电路工作良好.对该电路的测试结果显示,某代工工艺下,耦合电容会使信号延迟增加48％.对比发现,参考时序分析流程对信号完整性分析结果与流片数据有较大差异.

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来源
《第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛》|2012年|443-446|共4页
会议地点长沙
作者
Su Qi; 苏琦; Guo Xin; 郭昕; Li Yan; 李研;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN431.2:TN407;
关键词
数字集成电路; 信号完整性; 金属线; 时序特性; 测试电路;

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