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HT-7上基于软X射线能谱诊断的电子加热实验研究

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HT-7上软X射线能谱诊断所使用的硅漂移探测器(SDD)采用peltier效应制冷，体积紧凑，在短的成形时间下具有高的能量分辨率，非常适合在托卡马克上布置空间多道诊断。软X射线能谱不仅是测量温度的常规诊断，在HT-7所开展的兆瓦(MW)加热功率实验下，它同样是不可或缺的重要诊断，利用它对欧姆加热、低杂波(LHW)加热以及离子伯恩斯坦波(IBW)和低杂波协同加热三种情况下的电子加热进行了实验研究，所得结果与汤姆逊散射和ECE两种诊断作了比较。

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来源
《第九届中国核学会“核科技、核应用、核经济（三核）”论坛》|2012年|43-50|共8页
会议地点杭州
作者
林士耀; 许平; 张继宗; 胡立群;
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作者单位

中国核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类谱仪;
关键词
辐射探测技术; 软X射线能谱; 电子温度; 鉴别诊断;

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