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X射线荧光光谱仪及其分析技术的发展

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本文论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整机现在向着小型化、智能化、多功能方面发展，仪器各部件也随着研究的深入而得到了更进一步地改进，在这一基础上，仪器可分析元素的含量范围得到了拓展，方法也得到了丰富。目前，X荧光光谱仪开发了微区面分布的元素成像分析方法、高级次谱线分析方法、薄膜分析方法等新的方法，文中将对这些新方法作以介绍，同时也对基本参数法(FP法)的新近发展作了说明。

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来源
《第七届全国地质与地球化学分析学术报告会》|2011年|149-155|共7页
会议地点嘉峪关
作者
赵恩好;
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作者单位

中国地质学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TH744.1;
关键词
X射线荧光光谱仪器; 数据处理系统; 结构优化; 元素分析;

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