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VTE对MgO(5mol/%):LN晶体中Mg浓度的影响

摘要

气相输运平衡(VTE)是改变铌酸锂晶体组分的一种实用有效的方法.二次离子质谱(SIMS)研究表明,在VTE初期,MgO扩散至晶片表面,导致表面浓度随深度的分布不均匀,并与VTE时间有关.中子活化分析(NAA)结果显示,Mg离子几乎没有从晶体中蒸发出去.随着VTE时间的延长,Li浓度趋向平衡,表面部分Mg离子扩散回样品并趋向平衡,导致表面Mg浓度的下降,使得Mg浓度分布更均匀;VTE140h后的样品,在至少10μm的空间范围内,浓度在深度方向是分布均匀的,讨论了Mg离子的占位.

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