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不同电子能量下运算放大器的辐射效应和退火特性

摘要

本文介绍了LM837双极运算放大器在1.8.MeV、1MeV,不同能量不同束流、相同能量不同束流电子辐照环境中的响应特性及变化规律,并通过在不同偏置状态下对其电离辐照敏感参数,辐照后在室温、100℃、125℃高温条件下随时间变化关系的分析,讨论了引起电参数失效的机理。结果表明:1.8MeV电子能量辐照引起的LM837辐射损伤比1MeV明显;辐照过程中正偏条件下的偏置电流变化比零偏时微大;并且LM837辐照后的退火行为与温度有较大的依赖关系,而这种关系与辐照感生的界面态密度增长直接相关。

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