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首页> 外文会议>15th world conference on non-destructive testing >A New U-centric Radioscopy System for BGA and LSI
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A New U-centric Radioscopy System for BGA and LSI

机译：用于BGA和LSI的新型U轴放射线照相系统

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A new X-ray testing device has been developed for fast and highly reliabletesting of very small defects in electronic circuits and parts, such as BGAand LSI, by using a psudo-3D X-ray TV system. The focal point size of a microfocusX-ray is nearly 1μm, so that very high resolution has been achieved, anda wide radiation angle of the X-ray source has enabled the I.I. TV camera tomove very widely and to take the image of an electronic board without tiltingit. The X-ray tube voltage can be set between 10 to 160 kV. The 3D display ofthe objects and multi measuring software provided give the very useful toolfor defect-analyses.
机译：开发了一种新型的X射线测试设备，可实现快速且高度可靠的测试 测试电子电路和零件中非常小的缺陷，例如BGA 和LSI，使用psudo-3D X射线电视系统。微焦点的焦点大小 X射线接近1μm，因此可以实现非常高的分辨率，并且 X射线源的宽辐射角使I.I.电视摄像机 可以非常广泛地移动并拍摄电子板的图像而不会倾斜 它。 X射线管电压可以设置在10到160 kV之间。 3D显示 提供的对象和多种测量软件提供了非常有用的工具 用于缺陷分析。

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