Stratonics, Inc., Laguna Hills, California, USA;
机译:条纹粒子成像测速仪对三组分速度的平面测量
机译:使用未封装的热液晶(TLC)粒子的像散成像同时进行三维温度和速度场测量
机译:换热器入口流的三维颗粒条纹跟踪(PST)速度测量
机译:通过双波长条纹成像进行粒子温度和速度测量
机译:用于喷雾测量的条纹颗粒成像测速仪和施胶探针的研究
机译:使用单次双波长差分图像分析片上芯片多粒子速度和尺寸测量
机译:使用单次双波长差分图像分析,片上芯片多粒子速度和尺寸测量