Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, P.O. Box 513, 5600 MB, The Netherlands;
机译:有机单层硅表面钝化:少数电荷载流子的寿命测量和开尔文探针研究
机译:3Ω扫描热显微镜探头探头频率域分析施加到真空环境中的尖端/表面热界面测量
机译:光学泵浦探针测量氢化非晶碳膜的声速和导热率
机译:热力积液测量:表面钝化方案中的探测氢
机译:通过扫描热探针法对非接触式和接触式探针与样品之间的热交换进行分析,以定量测量薄膜和纳米结构的热导率。
机译:一种采样方案用于在高盐和低盐饮食中母鸡副肋上皮中的钠转运和微毛表面积进行串联测量。
机译:c-Si表面钝化的a-Si:H薄膜上的氢等离子体和热退火处理
机译:在充分表征的镍表面上氢化腈:从表面科学研究到液相催化活性测量