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首页> 外文会议>2014 International Conference on Issues and Challenges in Intelligent Computing Techniques >Study of ion irradiated dielectric layer using network theory
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Study of ion irradiated dielectric layer using network theory

机译：网络理论研究离子辐照介电层

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The rapidly developing theory of complex networks indicates that real networks are not random. They have a large-scale architecture, governed by strict organizing principles. Recently, network theory has be en applied on ion track-based electronic structures such as the (TEMPOS (Tunable Electronic Materials with Pores in Oxide on Silicon) structures. In this work, the network theory has be en applied to study the surface properties of TEMPOS structures. The surface properties, i.e., number of pores and their distribution (which ultimately decide the behaviour of the TEMPOS structures) in the dielectric layer on a Si substrate, comes out to be scale-free and governed by the Power-law (power ∼ 2).
机译：复杂网络的迅速发展理论表明，实际网络不是随机的。它们具有严格的组织原则所控制的大规模体系结构。近来，网络理论已被应用到基于离子轨道的电子结构中，例如（TEMPOS（硅氧化物上具有孔的可调谐电子材料）结构），这项工作已被应用到研究电子的表面性质。 TEMPOS结构：Si衬底上介电层中的表面特性（即孔的数量及其分布（最终决定TEMPOS结构的行为））是无垢的，并且受幂律（功率〜2）。

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