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首页> 外文会议>2014 International Symposium on Optomechatronic Technologies >A Reflectometry Approach for Rippling Defect Measurement on High Glossy Surface
【24h】

A Reflectometry Approach for Rippling Defect Measurement on High Glossy Surface

机译：高光泽表面波纹缺陷测量的反射法

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Locally deformed defects, rippling, on home appliances cause appearance quality issues, and they look enlarged on high glossy surface. The defects need to be detected in the production line, where the product is moving on a conveyor transfer system. Inspection is executed by an expert but it is very subjective and not quantitative so that even quality assurance team cannot manage the defects levels. As a solution, a visual measurement methodology based on one shot reflection Moire is developed to obtain numerical data about surface defects. The system is introduced in this article, and experiment results are shown.
机译：家用电器上局部变形的缺陷，波纹会引起外观质量问题，并且在高光泽度的表面上看起来会变大。需要在产品在输送机传送系统上移动的生产线中检测缺陷。检验是由专家执行的，但它是非常主观的，而不是定量的，因此即使质量保证团队也无法管理缺陷级别。作为解决方案，开发了一种基于单反射莫尔条纹的视觉测量方法，以获得有关表面缺陷的数值数据。本文介绍了该系统，并显示了实验结果。

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