【24h】

Command driven scalable programmable FPGA based digital test pattern generator

机译:基于命令驱动的可扩展和可编程FPGA的数字测试码型发生器

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摘要

The proposed FPGA based digital Automatic Test Equipment (ATE) consists of two main design modules i.e., Digital Test Pattern generator (DTPG) & Digital Logic Analyzer. In this paper, novel FPGA approach is explained and the design and functionality COMMAND DRIVEN DTPG modules - 6 channels Frequency Synthesis block (FSB), 8×8 switch matrixes, 24 bit COMMAND Pattern Register are discussed. For all the design modules of DTPG, coding is done using Verilog HDL and simulated using Xilinx (FPGA) ISE simulator.
机译:所提出的基于FPGA的数字自动测试设备(ATE)由两个主要设计模块组成,即数字测试模式发生器(DTPG)和数字逻辑分析仪。在本文中,解释了新颖的FPGA方法,并讨论了COMMAND DRIVEN DTPG模块的设计和功能-6通道频率合成模块(FSB),8×8开关矩阵,24位COMMAND模式寄存器。对于DTPG的所有设计模块,使用Verilog HDL进行编码,并使用Xilinx(FPGA)ISE模拟器进行仿真。

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