ECE Dept Birck Nanotechnology Center, Purdue University, W. Lafayette, IN, 47907;
ECE Dept Birck Nanotechnology Center, Purdue University, W. Lafayette, IN, 47907;
Inverters; Annealing; Metals; Logic gates; Electrostatics; Doping; Switches;
机译:通过选择性静电掺杂探讨WSE2 / WS2 / MOS2范围异质结光电晶体管的电荷平衡和噪声电流的重要性
机译:具有0.13 $ mu $ m CMOS的扩展的读/写噪声裕度的节能40 Kb SRAM模块
机译:多芯片模块中的模块频率估计和噪声预算限制/权衡,取决于CMOS芯片集成
机译:WES2 CMOS逆变器的首先用静电掺杂可修改噪声裕度
机译:宽带CMOS六端口系统的电路模块。
机译:基于混合泊松噪声样本数值特征的CMOS / CCD图像传感器中信号相关随机噪声的参数估计
机译:由2D WSE2静电可重新配置晶体管启用无掺杂的互补逆变器