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Advances studies on the measurement of aspheres and freeform surfaces with the Tilted-wave Interferometer

机译:倾斜波干涉仪在非球面和自由曲面测量方面的研究进展

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摘要

The accurate and flexible characterization of aspheric and freeform surfaces is a key element in the further development of cost-effective production systems for such optical surfaces. This work presents the latest results in the measurement of aspheres and freeform surfaces with the tilted-wave interferometer.
机译:非球面和自由曲面的准确而灵活的表征是进一步开发此类光学表面的高性价比生产系统的关键要素。这项工作提供了使用倾斜波干涉仪测量非球面和自由曲面的最新结果。

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