Max-Planck-Institut fur Metallforschung, Seestrasse 92, 70174 Stuttgart, Germany;
机译:Al_2O_3 / Ni_3Al(110)界面处的水分诱导的不稳定性:界面化学
机译:具有AlN界面层的Al_2O_3 / AlN / GaN金属氧化物半导体结构的界面/边界陷阱表征
机译:Al_2O_3 / Ge结构与通过脉冲金属有机化学气相沉积形成的薄Ge氧化物界面层的界面性质
机译:Cu / Al_2O_3界面的界面化学和结构
机译:环境压力X射线光电子能谱探测离子液体-蒸汽界面上水的界面化学
机译:Cu / Cu2O界面中的电子结构和铁磁调制:界面铜空位及其扩散的影响
机译:Cu / Cu2o接口中的电子结构和铁磁性调制:界面Cu空位的影响及其扩散
机译:利用表面扩展的X射线吸收精细结构确定al / Cu和al / Ni界面的界面结构和相变