Musashi Institute of Technology 1-28-1 Tamazutsumi, Setagaya-ku, Tokyo 158-8557, Japan;
机译:通过SEM技术测量电子辐照绝缘材料上的电荷注入
机译:用于在扫描电子显微镜中测量电子辐射下绝缘材料中感应俘获电荷的装置
机译:朝着放射性多元原子的核结构朝着Muonic X射线测量的放射性同位素的核电半径
机译:放射线照射大部分绝缘材料的测量技术
机译:比较了三种X射线发射技术及其在薄膜和块状样品上的应用,包括低能重离子粒子诱导的X射线发射光谱。
机译:动态载荷下大体积多晶材料的时间分辨X射线衍射技术
机译:通过电子束辐射评估用于航天器的绝缘材料的静电充电性能
机译:美国国家核材料控制批量测量标定技术标准的应用