Indian Statistical Institute, 203 B T Road, Kolkata 700 108, India;
Indian Statistical Institute, 203 B T Road, Kolkata 700 108, India;
rsa; crt-rsa; cryptanalysis; factorization; lattice; lll algorithm; side channel attacks; weak keys.;
机译:RSA的扩展部分曝光攻击:改进全尺寸解密指数
机译:RSA的部分关键曝光攻击:实现Boneh-Durfee绑定
机译:通过猜测一些主要因素之一,对RSA及其变体进行部分密钥暴露攻击
机译:CRT-RSA的部分密钥暴露攻击:裸露的最低有效位的总体改进
机译:能够抵抗所选密文和密钥泄漏攻击的公钥密码系统的设计
机译:高效的基于证书的签密技术可抵御公钥替换攻击和内部人员攻击
机译:多电源RSA的部分密钥暴露攻击
机译:随机mFsK(多频移键控)跳频ECCm无线电对最坏情况部分频带噪声干扰的有效性