首页> 外文会议>Asia-Pacific Microwave Conference vol.4; 20051204-07; Suzhou(CN) >AN INNOVATIVE TECHNIQUE FOR FAST EVALUATION OF LOT PARAMETERS IN PLANAR ARRAY ANTENNA AT Ka_BAND
【24h】

AN INNOVATIVE TECHNIQUE FOR FAST EVALUATION OF LOT PARAMETERS IN PLANAR ARRAY ANTENNA AT Ka_BAND

机译:Ka_BAND平面阵列天线中很多参数的快速评估创新技术

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摘要

An earlier design procedure, valid for a linear array of slots is extended to apply to a planar array of slots. This abandons the design of isolated slots and arrives at a surprisingly simpler, faster and accurate technique to determine the slot parameters. This generalized procedure includes an important feature of effects of external mutual coupling and its correction.
机译:对槽的线性阵列有效的较早的设计过程被扩展以应用于槽的平面阵列。这放弃了隔离插槽的设计,并得出了一种出乎意料的简单,快速和准确的技术来确定插槽参数。该通用过程包括外部互耦效应及其校正的重要特征。

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