Japan Atomic Energy Agency, 4002 Narita, Oarai, Ibaraki, 311-13, Japan;
T_f,T_f~* =T_f/T_0: fluid temperature; T_0: source fluid temperature difference; T_s,T_s~* =T_s/T_0: structural temperature; Bi = hL/λ: biot number; Nu =hD /λ: nusselt number; Pe: peclet number; σ,σ~*=σ/{ EαT_O / (1-ν)}: stress; h: heat transfer coefficient; L: wall thickness of structure; D: inner diameter of test piece; λ: heat conductivity; E: young's modulus of structural material; x, x~* = x/L: depth into wall direction; α: linear expansion coefficient of material; ν: poisson's ratio; H(Bi,;
机译:用于流体混合实验中温度和热通量测量的薄膜温度表阵列的设计,校准和测试
机译:高温疲劳测试中应变测量和控制的替代方法
机译:用于高温下热导率测量的带保护的热板设备的构造和初步测试
机译:频率控制流体温度变化下的光谱热疲劳试验:瞬态温度测量试验
机译:液体主导地热储层恒定速率降低和井层瞬态温度行为的砂面和井筒瞬态温度的研究
机译:低温下热控制材料的光谱发射率测量设备
机译:瞬态温度梯度条件下的热疲劳试验机和一些实验结果
机译:模型测试的温度测量的再现性。航天器瞬态热模拟研究