H.H. Wills Physics Laboratory, University of Bristol, Bristol BS8 1TL, United Kingdom;
raman scattering; single-crystalline bulk A1N; phonon; linewidth; lifetime; temperature; decay channels;
机译:AlN本征复介电函数,光子寿命和偏振红外反射率测量的衰减通道的方向依赖性
机译:InN中的声子寿命和声子衰减
机译:单晶本体AIN的拉曼散射研究:AIN声子模式的温度和压力依赖性
机译:单晶散装A1N中的Phonon Lifetimes和衰减通道
机译:狭窄的GaAs结构中光学声音anharmonic衰减的寿命
机译:我们可以使用快速寿命测定来进行基于荧光寿命的快速代谢成像吗?总计数低的双指数衰减测量的精度和准确性
机译:n型β-FeSi2单晶中光生少数载流子的寿命和扩散长度