Kansai University, 3-3-35, Yamate-cho, Suita, Osaka, Japan 564-8680;
Electric speckle pattern interferometry; High resolution deformation measurement; In-plane and out-of-plane deformation simultaneous measurement; Multi-recording;
机译:通过斑点多记录法同时进行面内和面外变形测量
机译:多孔径散斑干涉术中的光学配置,可同时测量面内和面外变形
机译:多孔径散斑干涉术中的光学配置,可同时测量面内和面外变形
机译:使用多记录方法测量平面内和平面外变形同时测量斑点干涉测量的
机译:对比机制影响使用电子剪切散斑图案干涉测量光热变形的测量。
机译:使用电子散斑干涉法获得沉浸样品精确亚微米位移测量值的补偿方法
机译:通过使用高分辨率散斑干涉测定法通过平面外平面和面内变形测量的可能性