【24h】

A Totally Self-Checking CMOS ALU

机译:完全自检的CMOS ALU

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摘要

A totally self-checking ALU is presented in this paper. Design starts from a structure described in Mead and Conway [1], self-checking property is obtained with the aid of a specially-developed, topology-oriented, logical simulator.
机译:本文提出了一种完全自我检查的ALU。设计从Mead和Conway [1]中描述的结构开始,借助特别开发的面向拓扑的逻辑仿真器获得自检属性。

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