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首页> 外文会议>Electrical amp; Electronics Engineering (EEESYM), 2012 IEEE Symposium on >A BIST scheme to test static parameters of ADCs
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A BIST scheme to test static parameters of ADCs

机译：用于测试ADC静态参数的BIST方案

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This paper presents a Built-in Self-Test (BIST) scheme for testing Analog-to-Digital Converters (ADCs) static parameters, including Offset Error, Gain Error, Integral Non-linearity (INL) and Differential Non-linearity (DNL). The main components of the proposed BIST contain a Controller, a Test Pattern Generator (TPG), a Output Response Analyzer (ORA) and a Counter. The ramp signal is used as the stimulus, generated by TPG, Digital-to-Analog Converters (DACs) and filter. The function of filter is to eliminate the effect of DAC transition error to ramp stimulus signal. The correct synchronization between the ramp stimulus and the counter output codes is achieved, and then used by ORA to detect INL and DNL. The experimental results obtained by LabVIEW simulating indicate that thi
机译：本文提出了一种内置自测（BIST）方案，用于测试模数转换器（ADC）的静态参数，包括失调误差，增益误差，积分非线性（INL）和差分非线性（DNL） 。提议的BIST的主要组件包括控制器，测试模式生成器（TPG），输出响应分析器（ORA）和计数器。斜坡信号用作激励信号，由TPG，数模转换器（DAC）和滤波器产生。滤波器的功能是消除DAC转换误差对激励信号的影响。在斜坡激励和计数器输出代码之间实现正确的同步，然后由ORA用于检测INL和DNL。 LabVIEW仿真得到的实验结果表明

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