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首页> 外文会议>2019 ESA Workshop on Aerospace EMC >Contactless Vector Network Analysis of Embedded Two-Port Test Objects
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Contactless Vector Network Analysis of Embedded Two-Port Test Objects

机译：嵌入式两端口测试对象的非接触式矢量网络分析

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In the course of the increasing electrification of aviation, it is becoming more and more important to investigate the high-frequency properties of components directly at the location of installation. One variant is the contactless vector network analysis with impedance probes. This is a special type of current probe that can be used very well for contactless network analysis due to the corresponding calibration procedure. Existing measurement methods with these sensors require the test object to be disconnected from its external circuitry. In this paper an approach is presented with which test objects that remain in their external wiring can also be analysed using the contactless vector network analysis and impedance probes as contactless couplers.
机译：在航空电气化日益增长的过程中，直接在安装位置研究组件的高频特性变得越来越重要。一种变体是使用阻抗探头的非接触式矢量网络分析。这是一种特殊类型的电流探头，由于采用了相应的校准程序，因此可以很好地用于非接触式网络分析。这些传感器的现有测量方法要求将测试对象与其外部电路断开连接。在本文中，提出了一种方法，使用该方法还可以使用非接触矢量网络分析和阻抗探针作为非接触耦合器来分析保留在其外部布线中的测试对象。

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