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Pyroelectric Properties of Ferroelectric Thin Films: Effect of Internal Stresses

机译：铁电薄膜的热电性质：内应力的影响

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A thermodynamic model is employed to analyze the effect of internal stresses on the pyroelectric response of ferroelectric thin films. The pyroelectric coefficient as a function of the misfit strain is calculated for (001) Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3 epitaxial thin films by taking into account formation of misfit dislocations that relieve epitaxial stresses during deposition. It is shown that the pyroelectric response is highly dependent on the misfit strain in epitaxial thin films. Enhanced pyroelectric coefficient can be achieved by adjusting the misfit strain via substrate selection and film thickness especially in the vicinity of the ferroelectric to paraelectric phase transformation.
机译：采用热力学模型来分析内应力对铁电薄膜热电响应的影响。通过考虑减轻沉积过程中外延应力的失配位错的形成，针对（001）Ba_（0.6）Sr_（0.4）TiO_3外延薄膜计算出作为失配应变的函数的热电系数。结果表明，热电响应高度依赖于外延薄膜中的失配应变。可以通过选择基板和调整膜厚来调整失配应变，尤其是在铁电至顺电相变附近，从而提高热释电系数。

著录项

  • 来源
    《Ferroelectric Thin Films XII》|2003年|P.529-534|共6页
  • 会议地点 Boston MA(US);Boston MA(US)
  • 作者

    A. Sharma; Z. -G. Ban; S. P. Alpay;

  • 作者单位

    Department of Metallurgy and Materials Engineering and Institute of Materials Science University of Connecticut, Storrs, CT 06269;

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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 材料;
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