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Time-domain Terahertz Spectroscopy of Strontium Bismuth Tantalate Thin Films

机译：钽酸锶锶薄膜的时域太赫兹光谱

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We have measured the dielectric and optical properties of pulsed laser deposited SrBi_2Ta_2O_9 and Sr_(0.8)Bi_(2.2)Ta_2O_9 thin films on MgO substrate in THz frequency region by THz time-domain spectroscopy. The imaginary parts of the dielectric constant of both the samples show broad peaks in the frequency range 0.5-1.0 THz, which may be due to the soft mode in SBT in this frequency spectrum. The difference in the real part of the dielectric constant of Sr_(0.8)Bi_(2.2)Ta_2O_9 thin films is small for MHz and THz frequencies. On the other hand, the value of real part of dielectric constant of SrBi_2Ta_2O_9 thin films in THz frequency range is much smaller than that in MHz frequency region, indicating that SrBi_2Ta_2O_9 is not simply displacive ferroelectric material.
机译：我们已经通过太赫兹时域光谱法在太赫兹频率区域上测量了脉冲激光沉积在MgO衬底上的SrBi_2Ta_2O_9和Sr_（0.8）Bi_（2.2）Ta_2O_9薄膜的介电和光学性能。两个样品的介电常数的虚部在0.5-1.0 THz的频率范围内均显示出宽峰，这可能是由于该频谱中SBT中的软模式所致。对于MHz和THz频率，Sr_（0.8）Bi_（2.2）Ta_2O_9薄膜的介电常数的实部差异很小。另一方面，在THz频率范围内，SrBi_2Ta_2O_9薄膜的介电常数的实部值远小于MHz频率范围内的值，这表明SrBi_2Ta_2O_9并非简单地替代铁电材料。

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